二手 KLA / TENCOR SFX 100 #293761850 待售

KLA/TENCOR SFX 100是一种晶圆测试和计量设备，设计用于半导体制造。它有助于测量晶片缺陷的过程，通常在测试和排序阶段。该系统使用先进的成像和光谱技术，使其能够识别和分析缺陷。它有助于确保晶片通过质量控制并符合所有相关标准。KLA SFX 100利用两种扫描技术来分析晶片：明场成像和散射对比显微镜。亮场成像是一种相对简单的成像技术，它以不同的方向扫描一个发光的表面，并记录从表面反射到数码相机上的光。散射对比度显微镜使用更复杂的技术，寻找粒子波特性的差异，如散射和吸收，来识别和隔离缺陷。TENCOR SFX 100专为效率和准确性而设计。它具有高速零件识别、图像分析和缺陷分类功能，每小时可分析多达2000个晶圆。此外,该单元还利用倾斜的楔形界面提供不同角度的视图,以帮助识别缺陷。这种快速自动化的水平对大型晶圆批次特别有利，因为它减少了测试所需的时间。该机器还具有先进的传感功能,可显着减少错误警报和故障测试。它可以检测缺陷的大小、位置和形状，以及它们的形状、深度、污染程度、材料类型和缺陷类型。这使得工具能够准确识别真正的缺陷，从而显着优化产量和质量保证。总之，SFX 100是一种先进的晶圆测试和计量资产，使半导体制造过程更加高效和准确。该模型能够快速扫描大型晶片批次，准确检测和隔离缺陷，从而提高整体质量保证和产量。