二手 KLA / TENCOR / THERMA-WAVE OP 2600 #9200134 待售

KLA/TENCOR/THERMA-WAVE OP 2600是一种晶圆测试和计量设备，设计用于提供半导体产品的精确、可重复的测量。系统使用集成的双激光、白光相移干涉仪测量半导体晶片上的广泛参数，包括光刻CD、切线宽度、迭加配准等参数。该单元还能够测量半导体器件的电气特性。KLA OP 2600有几个特点，使其成为测量各种参数的绝佳选择。该机配备高分辨率CCD摄像机，可精确测量晶圆图样，以及功能强大的微处理器，可快速可靠地分析各种参数。该工具还包括一个模块化的板表，可以容纳几乎任何大小或形状的晶片，并且可以配备各种光学元件来测量不同的参数。TENCOR OP 2600使用多种软件包来分析其产生的数据，包括图像处理程序、电气特性分析和迭加配准分析。该资产对用户友好,并为用户提供其生成的数据的各种图形和表格表示。它还提供了多种诊断工具,以确保模型正常工作。THERMA-WAVE OP 2600是进行晶圆测试和计量的宝贵工具。它易于使用，并产生关于各种晶圆参数的可靠数据。它既可用于评估生产过程，也可用于研究和开发新的过程。设备紧凑耐用，快速准确地提供可靠的效果。