二手 KLA / TENCOR / THERMA-WAVE OP 2600B #293824935 待售

KLA/TENCOR/THERMA-WAVE OP 2600B晶片测试和计量设备旨在快速、准确地测量硅片的各种物理和结构特性。其中包括先进的集成光学和电容传感器，使用户能够以卓越的精度和精确度测量多个参数。KLA OP 2600B是由先进的晶圆级与多位置电动机车厢结合而成。这种组合创造了一种溷合设计，能够在测量晶片特性的同时快速准确地在晶片上移动。该系统还配备了先进的晶圆映射软件，允许操作员快速绘制结果图，以便得出有意义的结论。除了先进的晶片级之外，TENCOR OP 2600B还具有包括高分辨率成像单元的先进光学站。这个光学站允许操作员精确检查晶圆表面，进行多角度测量，并评估制造后结构的性能。THERMA-WAVE OP 2600B配备了强大的测量机，可以调整以测量广泛的参数。它能够分析晶片缺陷、地形、过度/底切深度、机械掺杂、分数奇偶层变化、蚀刻深度、掺杂均匀性等。它还可以配置一系列个性化工具,使其能够测量各种测量值,例如非接触电导率、接触电阻和压降。为了提高精度和精度,OP 2600B还包括一个可以在单个特征上测量地形的3D剖面仪、一个可以在整个晶圆表面测量特征阵列的多区域计量工具以及一个粒度结构测量工具。KLA/TENCOR/THERMA-WAVE OP 2600B具有强大的测量能力、先进的光学设备和数据收集功能,是一种有效可靠的质量控制和晶圆测试解决方桉。这使质量保证工程师和工艺工程师能够保持最高水平的质量控制和制造产量。