二手 KLA / TENCOR / THERMA-WAVE OPTIPROBE 2600B #9220002 待售

KLA/TENCOR/THERMA-WAVE OPTIPROBE 2600B是一种高级计量工具,旨在为用户提供半导体晶片关键参数的精确、可重复测试和测量。这种先进的设备可以在广泛的工作温度范围内实时测量各种复杂的设备结构,例如高长宽比3D设备。这套综合测试系统包括两个摄像头头，可以处理8到200毫米的晶圆尺寸，采样率高达25微米，能够快速准确地检测到即使是最小的变化。此外，专有的Opti-Gallium Indiam-Arsenide （GaAS）激光反向散射技术为先进的多层/多闸结构测量提供了快速准确的设备查询。KLA OPTIPROBE 2600B还具有集成的计量工具,可支持各种测试和测量,包括临界尺寸测量、临界高度轮廓测量、定位、布局、迭加和迭加平整度。该单元还可以执行多个高分辨率光学测量，包括BSI（底侧检查）和SEM/FIB。先进的KLA电动探测站设计为允许晶圆精确对准，并能以秒为单位测量多个测试点。此外,TENCOR OPTIBE 2600B还利用图形用户界面来访问全套测试和测量功能,从而使用户能够轻松设置和自定义测试程序。此外,这台机器可以通过基于云的安全Web服务进行远程控制,并且可以连接到各种流行的软件包以进行高级数据分析。THERMA-WAVE OPTIBE PROBE 2600B是为精确度和精确度而设计的,为用户提供了一个强大而可靠的半导体测试和计量工具。OPTIPROBE 2600B具有多样化的功能集、快速的性能和安全的远程访问功能,是高级晶圆测试和计量的理想解决方桉。