二手 KLA / TENCOR / THERMA-WAVE OPTIPROBE 2600B #9220005 待售

KLA/TENCOR/THERMA-WAVE OPTIPROBE 2600B晶片测试和计量设备为广泛的晶片测试和计量应用提供了先进的能力,包括工艺开发、监控、故障检测、缺陷识别、数据收集、晶片级预后、产量提高和晶片级分析。该系统具有高度灵活、可扩展和可配置的设计,能够与各种底物配合使用,这些底物包括硅、移植物、砷、磷化铵等。它还支持直径可达200毫米的晶片，精度为10µm。KLA OPTIPROBE 2600B由紧凑的大众市场外形组成,旨在使测试和计量活动更轻松、更快、更便宜。单元组件包括预期调试子系统、测试模式自动化和一套全面的测试工具。预期调试子系统提供了具有电路缺陷定位、电路参数优化和故障分析等特点的单个晶片的详细分析。测试模式自动化简化了用于计量和校准测试的测试模式的优化，以获得最佳结果。此外，TENCOR OPTIPROBE 2600B包括XY级移动、探针扫描、数字人机接口（HMI）、模煳逻辑处理器等各种测试工具的综合范围。OPTIPROBE 2600B具有高级扫描集采集机,可提供最多三个并发的非重迭扫描,以消除交换晶片和测试探针时所花费的时间。它还提供多达12个同时定位轴,精度达到+/-1微米,并为xy、z和theta轴测试步骤提供板载非线性补偿。所有的测量结果都是使用Matlab数据记录器捕获的，允许将数据轻松传输到电子表格或其他分析程序中。此外,THERMA-WAVE OPTIPROBE 2600B附带了一个嵌入式数据库,这使得在更长的时间内更容易管理、归档和比较结果。总体而言，KLA/TENCOR/THERMA-WAVE OPTIBE 2600B晶片测试和计量工具是一种功能强大、用途广泛、可靠的工具，可用于各种晶片测试和计量应用。其全面的特性和功能将有助于精简大型晶片的开发、控制和分析。它还为用户提供多达12个同时定位轴以进行精确测量，并为用户提供一个集成的非线性补偿资产以获得平滑和精确的结果。内置的Matlab数据记录器和板载数据库使长期管理、存档和比较数据变得容易。利用KLA OPTIPROBE 2600B提供的高精度和灵活性,用户可以确保从制造的每个晶片中获得可靠的测试和计量结果。