二手 KLA / TENCOR / THERMA-WAVE OPTIPROBE 2600B #9364393 待售

ID: 9364393
优质的: 1995
Film thickness measurement system 1995 vintage.
KLA/TENCOR/THERMA-WAVE OPTIPROBE 2600B是为半导体器件制造专业人士设计的高性能、自动化晶圆测试和计量设备。它集成了精密光学、高级算法和自动运动控制,以确保测量半导体晶片的线距、特征尺寸、线缘粗糙度等关键电路特征的最高精度水平。KLA OPTIPROBE 2600B旨在利用扫描隧道显微镜(STM)技术的最新进展满足对更高精度测量的日益增长的需求。TENCOR OPTIBE PROBE 2600B使用一系列自动化功能来管理常规晶圆测试和计量任务。它能够扫描尺寸高达10厘米(4英寸)的标准CMOS晶片并捕获精确的地形数据,从而能够准确确定特征关闭规则。该系统还支持许多高级算法,如主成分分析(PCA),用于准确识别和量化各种特征和特性。该单元还包括一个集成光学显微镜,它允许对集成电路的各个层进行定量和无损测量。OPTIBE PROBE 2600B融合了运动控制方面的最新进展,提供了极其快速的扫描和测试功能以及广泛的测量配置。它利用高速扫描技术和先进光学技术相结合,提供精确的分辨率和最小的漂移。机器可以自动对准光束,检测设备行为的细微变化以及温度的变化,从而可以在高温测试环境中使用。THERMA-WAVE OPTIBE 2600B除了具有高性能测试和计量功能外,还提供多种用户友好的功能。它配备了一个大的触摸屏界面,可以让用户轻松输入规格和检查数据。直观的图形用户界面使操作员能够快速启动、自定义和进行测试。它还包含了多种安全功能,包括保护外壳、紧急停止按钮和可听警报,以提供额外的安全保护。KLA/TENCOR/THERMA-WAVE OPTIPROBE 2600B是半导体器件制造专业人士寻求晶圆测试和计量更高精度和安全性的理想解决方桉。KLA OPTIPROBE 2600B具有先进的光学、自动运动控制和广泛的测量功能,是确保半导体器件尽可能高质量的宝贵工具。
还没有评论