二手 KLA / TENCOR UV 1050 #293752938 待售

ID: 293752938
晶圆大小: 6"-8"
优质的: 1992
Film thickness measurement system, 6"-8" 1992 vintage.
KLA/TENCOR UV 1050是为半导体工业设计的高端晶圆测试和计量设备。该系统能够快速、精确地检测晶圆的稀释和层质量,并能够检测光和涂层半导体晶圆的点缺陷、晶圆翘曲和表面粗糙度。该单元由光电KLA UV 1050激光干涉测量机和可维修子系统两个主要部件组成。TENCOR UV 1050工具利用精密激光器、光学器件和电子器件精确测量晶圆的厚度和总高度。该资产由两个激光干涉仪头组成,每个头具有独特的光束配置,用于通过记录晶圆的最大点对点厚度变化和晶圆的总高度以及任何大衣材料来测量晶圆的量地形。它配备了固有的非接触式3通道光学测量技术,可以在广泛的入射角范围内测量宽范围的晶圆厚度。该模型还可以检测晶圆表面的纳米尺度粒子。此外,还使用逐步校准过程来确保精确的测量。可使用的子系统设计用于支持UV 1050设备,包括用于控制系统的可编程计算机、用于跟踪晶片通过干涉仪时位置的栅格成像子系统,以及用于对晶片通过磁头时的表面进行平整的古筝调平子系统。该设备还可以提供快速、方便的维护,包括自动诊断和机器校准,以获得最佳性能。KLA/TENCOR UV 1050工具为晶圆测试和计量提供了许多优点。它确保了晶圆变薄和层质量的精确和可重复的测量,并且设计用于检测点缺陷、晶圆翘曲和表面粗糙度。用户友好的界面使其易于操作和维护,而可维修的子系统则为准确可靠的测试提供支持。此外,还可以自定义资产的灵活配置以满足特定的测试需求。归根结底,KLA UV 1050晶圆测试和计量模型是半导体行业精密晶圆测试的理想解决方桉。
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