二手 KOBELCO LTA-500 #9025720 待售

KOBELCO LTA-500晶片测试和计量设备是一种用于快速评估半导体晶片电气性能的精密系统。此单元非常适合测试准确可靠的结果至关重要的应用程序,例如极端温度测试、电压过低、泄漏电流和半导体封装测试。该机采用高性能、高速成像技术，精确捕获和分析晶片轮廓。这可以为用户提供分辨率高达2纳米（2nm）的蚀刻微观结构的微观信息。结合专用的图像处理算法,LTA-500能够在常规测试过程的一小部分时间内提供准确、可靠的结果。KOBELCO LTA-500还提供了多种动态晶圆测试和分析工具。其中包括晶圆地形轮、激光多普勒干涉测量和晶圆镜观看器。Wafer Topography Wheel是一种专门设计的工具,用于在微观尺度上测量特征,提供全面的测量,如特征高度、宽度、形状和方向。激光多普勒干涉测量工具提供晶圆表面运动的精确信息，从而能够精确测量晶圆结构的变化。最后，waferscope viewer提供了晶圆表面几何的全面视图，使用户既可以看到宏级特征，也可以看到微级细节。LTA-500晶片测试和计量工具提供了一种快速、可靠和精确的手段来测试各种晶片的电气性能。KOBELCO LTA-500拥有强大的工具套件和广泛的功能,是需要准确、全面和高效的晶圆测试和计量解决方桉的人的理想资产。