二手 KVM 4030C #293651246 待售

KVM 4030C晶圆测试和计量设备是最先进的晶圆测试和计量系统，非常适合半导体和平板应用。该单元提供了从样品测试到报废的整个晶圆测试过程中可靠、准确和可重复性的数据。4030C支持电压和电流探测功能。这允许同时测试两个参数。该机器还提供了多频多相组合选项，以便更准确可靠地收集数据。这使得一个全面的测试和计量工具。KVM 4030C包括探测室、测量块、信号处理器单元和扫描电子等各种子系统。探测室配备了自动装卸资产，可更快地装卸晶片。测量块包含对齐阶段、多频和相位控制系统以及多通道计算机控制接口。信号处理器单元是一种高速数字数据采集模型，能够准确准确地测量电压和电流参数。扫描电子设备包括CCD摄像头、数字信号处理和XY表,可实现精确高效的晶圆扫描功能。4030C是为提高吞吐量和精度而设计的,能够测试从5英寸到12英寸的各种晶圆尺寸。它的精密级和带有伸展手指的探头杯允许可调探头，并且使用户能够测试接近边缘的区域。它还提供了40-100个探测器之间的自动探测。该设备能够从240 nm到850 nm的波长扫描，多相和多频率值高达5 kHz。KVM 4030C提供易用性,并与各种软件程序和控制语言兼容,例如C++、C#、WinForms、安捷伦的BenchLink Pro和Measurement Studio,以便于编程、测试和数据收集。综上所述，4030C晶圆测试和计量系统是一个全面的，易于使用的单元，非常适合半导体和平板应用。它提供各种晶圆尺寸的高精度、可靠数据,并且与各种软件程序和控制语言兼容。