二手 LEHIGHTON 1510B SA #9083756 待售

LEHIGHTON 1510B SA是LEHIGHTON Technologies Corporation开发的晶圆测试和计量设备。它旨在提供有关晶片特性的全面信息,如地形、表面光洁度和晶粒结构。它具有灵活的应用范围,因为它能够以2D和3D高精度进行测量。该系统专为各类晶片设计，适用于短期和长期测试项目。高度可靠,高度测量精度高达3.5 nm, x和y-dimensions精度高达4.3 nm。单元的行进范围由级坐标机械手控制，测量分辨率可设置为0.1 μ m。电脑机基于Windows 10，并配有触摸屏显示和控制面板。1510B SA具有多种功能,使其成为测试晶片的理想选择。它能够测量晶圆地形、表面光洁度、晶粒结构和其他特征。它提供高达20 μ m/s的高扫描速度和快速定位,以快速测试许多不同的晶片。此外,它还支持非接触式计量,用于表面粗糙度和粗糙度测量。该工具还可以用于逆向工程，可以集成到完整的过程控制资产中。它能够产生一系列图像，例如用于FIB-SEM的图像，包括原子力显微镜（AFM）、扫描电子显微镜（SEM）和共聚焦显微镜。该模型还配备了自动校准器，为更好的晶圆测试和分析提供实时分析和反馈。LEHIGHTON 1510B SA还支持非接触晶圆测试和追溯。它最多有五个可编程晶片方向，可以根据用户的需要进行设置。设备配备了数据分析的统计软件，可以生成3D图像，帮助晶圆评估。总体而言，1510B SA是一种高性能晶片测试和计量系统，旨在提供有关晶片特性的全面信息。它能够测量各种特性，提供高的扫描速度，并配有数据分析的统计软件。这使得它非常适合逆向工程和过程控制系统,以及提供可追踪性和非接触式测试。