二手 LEHIGHTON 1510C-RP #293608868 待售

LEHIGHTON 1510C-RP晶片测试和计量设备是一种设计用于半导体晶片加工和检验的高精度计量工具。该系统使制造商和测试人员能够分析和测量晶片的各种特性，以及检测污染和缺陷。1510C-RP是一个全自动的独立单元,可以精确检查和分析直径不超过12 ″ （300毫米）的所有类型半导体晶片的物理特性、电气特性和光学特性。它结合了一系列专门的传感器和光学显微镜以及数据采集机，可以快速准确地测量晶圆的各种特性，而无需任何操作员干预。LEHIGHTON 1510C-RP支持一系列晶圆探针和基材，如氧化硅、氮化硅、碳化硅、掺氧多晶硅和重金属氧化硅。此外,该工具可配置为检测一系列缺陷和污染物,如颗粒、残留物、污染、缺陷等。这样可以确保高质量的结果,并确保晶片安全以便进一步处理。1510C-RP还支持一系列全面的测试模式，包括无损和破坏性测试以及各种故障分析技术。LEHIGHTON 1510C-RP包括两个独立且可互换的平台，一个用于检查，一个用于表征。检查平台执行最基本、最关键的测试任务，如焦点高度和临界尺寸测量，而表征平台运行更专业的测试，如电容测量和载波移动性测试。这允许用户配置和灵活调整资产以适应其应用程序的特定需求。此外,1510C-RP还提供了多种功能来简化测试和计量过程,例如自动晶圆处理、连续性检查、自动数据采集和远程访问控制。这有助于减少总体测试时间并提高准确性。LEHIGHTON 1510C-RP是寻求可靠、高性能晶圆测试和计量模型的制造商、测试人员和研究人员的完美解决方桉。其广泛的特性和多功能功能为基本晶圆检测和复杂的分析任务提供了理想的平台。此外，它的成本效益和简单的操作使它成为实验室和生产设施的一个有吸引力的选择。