二手 LEHIGHTON 1510C #9101496 待售

LEHIGHTON 1510C晶片测试和计量设备是一种生产级晶片测试系统，用于检测、分析和测量半导体晶片上的表面缺陷。这一单元利用高速、基于激光的检测技术，提供准确和可重复的测量。1510C先进的激光光学器件赋予其卓越的成像性能，提供了250 nm的最大表面缺陷检测分辨率。此外,机器的数码相机功能使其能够以100,000像素分辨率捕获任何缺陷的清晰图像。此工具具有高度模块化的设计,具有许多功能,使其成为生产级测试应用程序的一个有吸引力的选择。它的主要部件包括一个激光头、两个目标、一个聚焦臂、一个光学机械手和一个电动晶片级。这些元件被设计成协同工作来检测和分析晶圆表面上的任何缺陷。LEHIGHTON 1510C还配备了多种计量软件工具。这些工具使用户能够校准其成像系统并准确测量任何检测到的缺陷。该资产支持不同的测量方法，包括光学轮廓法，这是生产级工艺控制应用的重要能力。1510C模型还提供了一整套自动化晶圆测试功能。这些功能包括自动对焦设备、自动识别系统和高级缺陷分类功能。这些特性使得识别和分析缺陷模式更加容易，进一步提高了测试过程的效率。总体而言，LEHIGHTON 1510C晶圆测试和计量单元为生产级晶圆测试提供了可靠的平台。它的多用途组件、自动化功能和计量软件工具有助于简化晶圆测试过程,使其成为搜索高效缺陷检测解决方桉的任何组织的一个有吸引力的选项。