二手LEITZ(晶圆测试、计量)待售

LEITZ是在半导体工业中广泛使用的晶圆测试和计量设备的领先制造商。它们的产品范围包括类似物，如其高级光谱椭圆偏光计（ASE），为薄膜表征提供精确的测量能力。这些系统提供了高速、无损检测和精确表征膜厚度、折射率和表面粗糙度等优点。来自LEITZ的一个流行的晶圆测试系统是LIS（Leitz Integrated System），它结合了包括光谱椭圆偏振法、反射法、散射法等多种测量技术。LIS系统能够进行全面的晶圆检查和表征，确保半导体器件的高质量和可靠性。为了计量的目的，LEITZ提供MPV-SP（多用途光谱反射计）。该系统为薄膜厚度、折射率和临界尺寸提供了快速、准确的测量能力。MPV-SP在半导体制造中常用于过程控制和优化。LEITZ还提供了SP（Spectroscopic Ellipsometer）系列，它为薄膜厚度和光学常数提供高精度的测量能力。这些装置是为满足各种晶圆制造工艺的苛刻要求而设计的。总体而言，LEITZ晶片测试和计量机以其先进的技术、精确的测量和可靠的性能而闻名，帮助半导体制造商提高产量，改进工艺控制，满足业界不断提高的质量标准。