二手 LEO GIKEN ASM-25B #9156513 待售

LEO GIKEN ASM-25B是一种晶圆测试和计量设备，旨在促进精确的晶圆计量。该系统利用微四点探针技术精确测量晶片的电性能，如电阻、接触面积和电阻均匀性。由于四点探针插入晶片，可以一次扫描一个区域长达两英寸，导致测试时间比市面上其他晶片测试系统更快。该设备具有独立的环境,机柜内的受控湿度为50%,可进行精确的测量并提供可重复的结果。待测材料可安装在试样台上，然后以每秒5至100毫米的可调速度进行扫描。ASM-25B的测试阶段需要最小的操作员参与，因为测量是通过实时分析的集成机制即时进行的。机器的数据收集以各种格式进行,如jpg、bmp、gif和tif。在进行晶圆测试和计量时，由工具渲染和测量电气特性、电流、电压和电阻方面的输出。LEO GIKEN ASM-25B还提供了多种其他功能，如气垫机构，在测试精致晶片时提供温柔的触感。此外，晶圆支架可以被装备，以防止振动在测试过程中。IP65-protected键盘和显示器增强了用户友好型资产的特性,因为这些特性确保了模型能够在几乎任何环境中得到积极使用。总体而言，ASM-25B结合了准确性、可靠性和实用性，以便在晶圆计量中提供领先的结果。设备提供的精确和快速的测量使其成为任何实验室或半导体生产线的理想选择。