二手 MDC CSM/16 #78144 待售

MDC CSM/16是为集成电路的制造和测试而设计的晶圆测试和计量设备。该系统设计用于测量半导体器件和材料，尺寸不超过16平方米。它为半导体工业提供了一种经济和可靠的手段来进行电气试验，并以高通量测量试验样品的物理性质，例如面积和厚度。该单元利用先进的光学计量技术和自动化软件，能够有效地快速准确地检测、分析和处理测试样本数据。它包括一个高亲和力发射器，可用于移动样品材料，使样品的测试地点与安装在相邻倾斜级上的光学计量工具精确对齐。该工具采用精确对准技术，为样品提供精确、均匀的光学计量技术位置。此外，该机还具有定制设计的成像工具，用于确定样品材料的层厚度和其他特性。测试样本放置在包含全自动集成成像方法的倾斜阶段，并根据用户规范进行测试。该资产还提供准确的样品测量，并且能够检测到低于1mV的电路中的低电压差异。此模型允许用户自定义设置和测试分析,以精确测量所需的样本设备和材料特性。此外,MDC CSM/16还提供了用户友好的图形用户界面,使客户能够轻松快速地为不同的测试和测量样本类型设置设备。系统还可以呈现各种格式的数据，包括图表、报告和表格信息。该设备符合行业标准，与各种不同的测试样品完全兼容。为了增加安全性,机器还具有内置的安全工具,可以检测任何危险情况并立即关闭资产,以保护用户免受潜在的伤害或数据丢失。总体而言，MDC CSM/16是一种先进、可靠的晶圆测试和计量模型，旨在准确、高效地测试集成电路和样品材料。该设备允许用户进行各种测试，并轻松测量样品材料的物理特性。该系统还便于用户使用,具有良好的可自定义性,并符合行业标准。