二手 MDC CSM #77224 待售

MDC CSM（Model Driven Control Chip Equipment Metrology）是由EWI Advanced Metrology&Manufacturing Technology开发的晶圆测试和计量系统。该单元是一个先进的精密计量平台，由集成的可编程计量计量臂、试点检验和自动化过程控制软件以及图像分析和测量库工具组成。该机的计量臂由一个强大的静态和动态5轴坐标工具组成，具有数据采集和控制（DAC）的高多功能性。另一方面,试点检查资产旨在帮助用户访问流程数据指标、测试平台性能,并提供全面的流程控制。利用其最先进的组件，该模型为晶圆测试和测量应用提供了可靠、高精度的解决方桉。设备的数据采集控制（DAC）机制允许用户控制探头在晶圆表面的扫描速度和方向。这有助于获得用于进一步分析和处理的可靠测量。该系统还包括一个自动扫描机制，通过允许用户定义和编程步长，为用户提供进一步的灵活性。CSM单元还具有高级图像分析库工具。该库配备了自动化的图像分析和测量工具，以及基于图像的对象识别和评估算法。这些功能使用户能够自动评估测试结果，并以快速准确的方式获得关键的测量结果；从而减少了获取可靠数据所需的时间。此外,机器还提供各种软件,用于提取测量结果并将其精确映射到CAD模型。此外，自动化的过程控制软件允许用户为各种晶圆过程快速编程工具，以及设计定制的测试协议。最后，资产附带了广泛的数据管理和统计分析工具，旨在支持当前和未来的数据分析需求。总体而言，MDC CSM是一个全面的晶圆测试和计量模型，为用户提供强大的数据采集和控制能力。凭借其最先进的组件,该设备提供了卓越的准确性、可靠性和多功能性,以支持广泛的晶圆测试和测量应用。