二手 MICRO-TEC Z-CHECK 500 #9010808 待售

MICRO-TEC Z-CHECK 500是一种最先进的晶圆测试和计量设备,专为最新的晶圆操作和测量技术而设计。该系统采用的专利技术既紧凑又轻巧，使广大用户都能使用。其坚固的设计提供了卓越的准确性和可靠性,每次测试都能提供精确的结果。Z-CHECK 500晶圆测试计量单元是一种模块化机器，能够测试12英寸或5英寸晶圆，最大厚度为7mm。该工具可以测量多种特性，包括薄膜厚度和电池密度，以及更复杂的特性，如非均匀性、地形和迭加。光学器件的精确使用使资产能够从背面测量晶片，而无需基板支架。该模型具有多种功能,例如将测试晶片固定到位并提供运动控制的探测站、用于释放晶片的晶片处理单元以及用于数据可视化的显示单元。MICRO-TEC Z-CHECK 500还包括一个Advanced Wafer Metrology Kit，它是一个功能强大但用户友好的工具，附带各种映射和测量应用。此套件允许用户定义各种参数和条件,从而使Z-CHECK 500能够测量各种微结构曲面特征。该设备还为用户提供了用户友好的图形用户界面（GUI）。GUI提供了多种方便的工具,包括直观的下拉菜单,允许用户快速查找所需的工具。此功能还允许用户查看保存的数据以及诊断、过程和测试结果。MICRO-TEC Z-CHECK 500晶圆测试和计量系统是那些希望将晶圆分析提升到一个新水平的人必须具备的设备。该设备采用高级功能,即使是最复杂的测量也能提供精确可靠的结果。