二手 MICROTRAC S3500 #9215363 待售
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已售出
ID: 9215363
优质的: 2010
Micron particle counter system
With computer
Power cord
Tri-laser system
Particle size: 0.02 to 2800 microns
Standard range: Wet: 0.24 to 1400 um
Precision:
CV = 0.7% Spherical glass beads D50 = 642 micron
CV = 1.0% Spherical glass beads D50 = 56 micron
CV = 0.6% Spherical latex beads D50 = 0.4 micron
Lasers: Wavelength 780 nm
Power: 3 mW Nominal
Detection system: (2) Fixed photo-electric detectors
With logarithmically spaced segments
Optimal scattered light detection
0.02-163 Degrees using (151) detector segments
Data handling:
Data storing format: ODBC
Encryption: Microsoft access databases
Data integrity: FDA 21 CFR Part 11
Typical analysis time: 10 to 30 seconds
Environmental:
Temperature: 10 to 35°C
Humidity: 90% RH
Maximum storage temperature: -10° to 50° C
Pollution: Degree 2
Physical case: Steel and impact resistant plastic
Exterior surfaces: Corrosion resistant paint or plating
Dry operation: 100 psi (689 kPa)
Maximum pressure 5 CFM at 50 psi (345 kPa)
Minimum flow rate
Moisture / Oil
Vacuum: Exceed 50 CFM
Power:
AC Input: 90-132 VAC, 1 Phase, 47 to 63 Hz
200 to 265 VAC, 1 Phase, 47 63 Hz
Power consumption: 10 to 30 Seconds
2010 vintage.
MICROTRAC S3500是一种功能强大、用途广泛的半导体工业晶圆测试和计量设备。它设计用于对2"到8"的晶片上的点、线和帧扫描进行高速全晶圆测量。该系统利用先进的光学技术和精密的图像处理来增强测量。MICROTRAC S 3500具有多种工具，包括晶圆测试和计量单元、缺陷检查和审查以及晶圆过程监测。S3500的主要重点是表征标准和先进基板和材料的非常具体的电性能，如电阻率、移动性和电容。另外，S 3500可以测量晶片的表面和厚度，以及识别微妙的缺陷和变化。该机器能够生成有关晶圆质量的准确数据以及其他摘要,如原理组件、群集和回归。高级用户界面为操作员提供了广泛的可自定义选项,允许对工具进行完整的自定义。MICROTRAC S3500还具有快速映射晶圆图案或结构的诊断功能。这包括区分晶片上可能存在的两种缺陷的能力。此外,可视化选项还提供了方便的成像功能,以及比较来自两个不同晶片的地图的功能,以识别关键的工艺差异。最后，该资产使用统计过程控制算法对整个晶片进行自动测量，定义和分析过程变化。与其他现有技术相比，MICROTRAC S 3500提供了晶圆测试和计量的最高吞吐量。该模型的最先进的光学技术提供了卓越的精度，先进的图像处理算法提供了快速准确的结果。该设备易于安装、维护和配置,可为晶圆测试和计量需求提供经济实惠的解决方桉。
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