二手 MICROTRAC S3500 #9215422 待售

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ID: 9215422
优质的: 2006
Micron particle counter system With sample delivery system Tri-laser system Particle size: 0.02 to 2800 microns Standard range: Wet: 0.24 to 1400 um Ranges (Wet, dry) Basic: 0.7-1000 um, 0.7-1000 um High: 2.75-2800 um, 2.75-2800 um Standard : 0.24-1400 um, 0.24-1400 um Special : 0.086-1400 um , 0.24-1400 um Extended: 0.021-2000 um, 0.24-2000 um Enhanced: 0.021-2800 um, 0.24-2800 um Precision: CV=0.7%, Spherical glass beads D50: 642 micron CV=1.0%, Spherical glass beads D50: 56 micron CV=0.6%, Spherical glass beads D50: 0.4 micron Lasers: Wavelength 780 nm Power: 3 mW Nominal Detection system: (2) Fixed photo-electric detectors Optimal scattered light detection 0.02-163 degrees using (151) detector segments Data handling: Data storing format: ODBC Encryption: Microsoft access databases Data integrity: FDA 21 CFR Part 11 Typical analysis time: 10 to 30 seconds Environmental: Temperature: 10° C-35°C Humidity: 90% RH Storage temperature: -10° C-50° C Pollution: Degree 2 Physical case: Steel and impact resistant plastic Exterior surfaces: Corrosion resistant paint / Plating Dry operation: Maximum pressure: 100 psi Minimum flow rate: 5 CFM-50 psi Free of dry contaminants Moisture / Oil Vacuum: Exceed 50 CFM Includes: Computer Power cord Cables Power AC Input: 90-132 VAC, 1 Phase, 47 - 63 Hz 200-265 VAC, 1 Phase 47 63 Hz Power consumption: 10-30 Seconds 2006 vintage.
MICROTRAC S3500是一种晶圆测试和计量设备,设计用于分析半导体晶圆,以确保它们符合制造标准和预期。它是专门为晶圆计量需要而开发的,提供了一个可靠、高精度的解决方桉来完成所有必要的测试。MICROTRAC S 3500利用先进的激光扫描技术来检测多个参数,包括电导率等电性能、透射率等光学特性以及升空和步进高度等结构参数。S3500的内置硬件允许高效和可靠的测试过程。它由具有三轴镜面系统的扫描头组成,可调节以获得最佳的扫描性能和角度分辨率。这是由一个光学目标帮助扫描头捕获图像,以及必要的控制电子设备。此外,该单元还提供各种基于软件的模块,使用户能够快速准确地分析收集的测试数据。S 3500具有主控制器单元和图形用户界面与Windows操作机兼容软件。它旨在提供最大的测量范围、精度和可重复性,以提高晶圆测试过程的速度。该工具还配备了几何扫描模块和自动掩蔽技术,以避免由于掩蔽过程产生任何不利结果。这保证了准确的结果,可以直接与之前或之后的扫描进行比较。MICROTRAC S3500还能够同时从多个传感器收集数据,从而获得更准确的测试结果。此外,它还包括强大的计量功能,如二维和三维成像、点大小映射、临界维度(CD)确定和薄膜物理特性测量。除了自动化的硬件和软件解决方桉外,MICROTRAC S 3500还提供了扩展的服务和支持选项。该资产提供现场培训、网络研讨会、软件更新、全天候热线服务和工程服务合同,以便用户尽可能最好地使用该模型。此外,定期维护设备,以确保测试结果的最大性能和准确性。总体而言,S3500是一个可靠和用户友好的晶片测试和计量系统,旨在降低成本,提高效率,并确保晶片的质量。其集成特性和质量保证支持使其成为工业晶片测试和分析的理想选择。
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