二手 MITUTOYO SJ-401 #9267193 待售

MITUTOYO SJ-401是一种最先进的晶圆测试和计量设备，设计用于精确测量半导体晶圆的电气、物理和光学特性。该系统提供高分辨率成像和精确测量晶片的尺寸达200毫米。凭借其先进的光学装置，SJ-401能够检测和测量晶圆上最小的特征尺寸。MITUTOYO SJ-401配备了360°可旋转相机，让用户获得平面和非平面晶圆表面的超高分辨率图像。内置采样阶段由位置监控机控制，消除了因环境变化造成的采样运动。此外，该装置能够快速扫描，从而能够对晶片进行快速可靠的性能评估。SJ-401配备了强大的计算机工具，能够提供非常准确的结果。资产能够识别地形、反射率、表面粗糙度特性以及缺陷分析等属性。该模型还能够将测量结果存储在数据库中以进行进一步分析。MITUTOYO SJ-401除了提供高精度晶圆测试和计量外，还与各种配件兼容，可以提高效率。这些可以包括干涉工作单元、舞台安装目标、晶圆视觉系统以及各种工业机器人操纵器。总体而言，SJ-401为用户提供了精确准确检测和分析各种晶圆特性的能力。该系统拥有先进的光学设备和强大的计算机,在测试和计量晶圆表面时可提供高速、易用性和无与伦比的精度。