二手 MITUTOYO SJ-401 #9292736 待售

MITUTOYO SJ-401是一种高性能晶片测试和计量设备，设计用于半导体晶片的快速、准确和自动化的质量控制。适用于制造和开发实验室以及研究和晶圆制造。该系统为晶片处理的各个方面提供了一整套功能,包括质量测试、3D测量、失真评估和缺陷分析。作为用户,您可以利用设备强大的算法和直观的用户界面自动执行晶圆质量分析过程,并确保晶圆符合国际标准。SJ-401拥有经过优化的光学机器,可提供增强的3D测量。该工具可以测量高度轮廓、特征之间的距离，还可以区分低至1 µm的精细纹理。资产包括一台大型高分辨率摄像机，可提供详细的成像，进一步分析收集到的数据。该模型还包括各种自动化工具，例如几何和失真测量。这些自动化工具使用户能够快速准确地测量晶片的几何特性以及评估晶片的失真参数。此外,设备还可以检测到各种缺陷,如划痕、污染和裂缝,这些缺陷有助于确定故障的根本原因。为了便于分析和报告，MITUTOYO SJ-401还拥有能够生成测试和测量结果综合报告的软件。该软件与多语言SPC/QC软件集成，允许高效的质量管理。这减少了分析测试结果所需的时间和资源。简而言之，SJ-401是一个功能强大的自动化晶片测试和计量系统，使用户能够快速准确地分析半导体晶片的质量。它提供各种高级功能,包括高分辨率摄像头、自动测量工具和多协议报告软件。这使得MITUTOYO SJ-401晶圆制造和开发实验室质量控制的理想选择。