二手 N&K 1512 #293755557 待售

N&K 1512是一种精密晶片测试和计量设备，设计用于测量和分析范围广泛的半导体晶片和薄膜。该系统由一系列组件组成，这些组件共同提供实验室和工业应用中的综合计量能力。1512是由一个两轴分级单元组成，可用于精确和精确地将晶片定位在所需的位置，另外还有一个大型高分辨率成像机，能够拍摄晶片的大表面积。此成像工具能够检测尺寸为5nm的特征。该资产的相机部分能够捕捉彩色光学和单色偏振光图像，从而可以进行各种不同的测量。此外，还可用于检查晶圆上的缺陷和均匀性。该模型的成像元件进一步补充了一个AFM（原子力显微镜）模块，该模块可用于测量晶圆表面的地形，提供垂直和横向特征大小和形状。N&K 1512还配备了光谱模块，用于测量薄膜和晶圆厚度以及折射率。它可以测量低至1纳米的薄膜厚度和低至1.4的折射率。该系统的设备Analyser组件使用户能够对晶片执行各种不同的测量,包括片状电阻、电容电容、厚度、传输和电阻率测量。分析器组件得到高级软件包的补充,该软件包为数据输入和管理提供了直观的界面,并为各种测试和分析过程提供了全面的图形输出。总体而言，1512为半导体晶片和薄膜提供了全面的测试和计量解决方桉。该设备的综合成像能力，加上其分析仪组件和软件包，使用户能够快速准确地测量晶圆上的各种参数。这种组分组合使得机器非常适合实验室和工业应用。