二手 N&K 1712-RT #9312850 待售

N&K 1712-RT
製造商
N&K
模型
1712-RT
ID: 9312850
Wafer analyzer.
N&K 1712-RT是一种最先进的晶圆测试和计量设备,设计用于晶圆材料的快速、准确和无损测试。它具有多种模块和扫描技术,包括原子力显微镜(AFM)和光学干涉测量(IF),以测量各种参数,包括应变、应力、缺陷密度、缺陷定位、沉积厚度和波前。通过分析这些数据,用户可以准确了解晶片的性能以及可能导致故障的任何潜在可靠性问题。1712-RT是一个能够跨多个区域运行的综合系统,在一个单元中具有多个模具容量。它提供了在不同扫描参数和示例类型之间快速切换的功能。该机器可以用最小的样品制备测试薄晶片样品和厚晶片样品。该工具通过无损方法有效地测量晶片边缘到背面的各种参数。N&K 1712-RT具有直观的图形用户界面来调整设置和存储结果。它具有高级统计分析套件,允许用户以多种形式查看结果。此外,该资产还提供各种连接选项,使远程监视和跨多个数据集执行数据分析成为可能。该模型提高了吞吐量、准确性和可重复性。利用大面积和精密AFM扫描技术对晶片样品进行地形检测,并从表面测量各种参数。这有助于建立更全面的晶片性能视图,帮助客户为其应用选择性能最好的晶片材料。1712-RT具有顶级光学设备、扫描平台和组件。利用高分辨率相机和专有扫描算法,快速准确地检测晶圆表面的缺陷和其他异常。该设备还具有存储和分析大型数据集的能力,使用户能够研究历史和实时的各种参数。N&K 1712-RT是一种可靠、高质量的晶圆材料测试和计量系统。它具有快速准确测量、存储数据集、以多种形式分析结果以及检测晶圆表面缺陷和其他问题的功能。它的准确性、可重复性和吞吐量都是一流的,对于需要满足其严格要求的可靠结果的用户来说,这是一个极好的选择。
还没有评论