二手 N&K 5700CDRT #9247004 待售
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ID: 9247004
优质的: 2005
Resist thickness measurement system
For photomask
Broadband spectrometer
Spot size: R 50um, T <400um
Spectral range: 190-1000nm
Trench profile
Patented micro-spot measurement technology
All-reflective optical based system
Square masks, 5"-6"
Phase, TR
2005 vintage.
N&K 5700CDRT设备是一种最先进的晶圆测试和计量系统,旨在对晶圆地形进行极其精确的测量。这台先进可靠的仪器提供了有关晶圆地形的全面数据,如表面粗糙度、步高、晶粒尺寸等参数。5700CDRT晶圆测试和计量单元基于扫描型偏转测量技术。这种创新的方法使机器能够高效快速地精确测量晶片的各种地形特征。该工具可以测量各种地形特征,如表面粗糙度、台阶高度、梯田等。N&K 5700CDRT配备高速扫描镜,在光束路径内快速移动,以精确测量晶圆的各种地形特征。5700CDRT晶圆测试和计量资产还利用先进的激光干涉测量模型生成极其可靠和精确的地形数据。该设备结合了离轴和轴上干涉测量,以准确分析被测样品的波前轮廓。利用这一先进技术,N&K 5700CDRT可以同时测量晶圆表面的粗糙度和高度,并以1-2纳米的出色分辨率给出结果。而且,5700CDRT是一种极其方便用户的设备。它具有易于使用的触摸面板界面,使用户能够快速设置系统,调整参数,并以最小的努力获得详细的结果。除了用户友好的界面外,该设备还支持其他通信接口,如以太网或RS 232。它还具有软数据记录功能,便于下载和分析测试结果。总体而言,N&K 5700CDRT是一种可靠和可靠的晶圆测试和计量机器,可提供精确和精确的晶圆地形测量。利用先进的扫描偏转测量技术,可以快速可靠地测量晶圆表面的各种地形特征。此外,它还带有一个直观的用户界面,这使得它易于操作。总而言之,这种工具是以高效准确的方式测量晶圆地形特征的绝佳工具。
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