二手 NANO SYSTEM 3025 CIS #9153476 待售

NANO Equipment 3025 CIS（Compact Inspection System）是为制造半导体芯片而设计的高性能晶圆测试和计量单元。这台机器的研制是为了能够对小型和新技术进行有效和可靠的测试，例如晶圆、集成电路（IC）和薄膜晶体管（TFT）。工具的工具用于测量这些元件的电气特性，如电阻、电容和电流泄漏。3025 CIS旨在以高精度和高速度进行测量,并帮助减少人员时间和成本。其精度能够在不同部件（包括尺寸小于0.03毫米的组件）上进行高精度的测量。与其他检查系统相比，这一资产拥有CCD数码相机和LED组合光学显微镜，3-D聚焦进一步提高了测量精度。该装置还配备了检测产品的高灵敏度激光和测量装置。此功能通常用于检测组件上的任何异常区域或缺陷。例如，它可以检测晶圆上的晶界、电短裤和任何其他异物。它还具有识别空隙、裂缝和战争的能力。NANO Model 3025 CIS具有直接的计算机通信，具有用户界面，让用户完全控制设备的运行。它能够存储和召回配方以及测试参数,以获得更好的性能。而且该系统与C、C++等不同的编程语言高度兼容，非常适合开发和优化生产流程。该设备还提供了强大的功能，如其内置的数据记录器和与其他检查系统相辅相成的能力。此外,该设备还配备了直观的触摸屏面板,并与数据库互连,以获得更好的性能。最后,完全符合IPC-A-610E、IPC-6010、ISO 9001：2015、ANSI/ESD S20.20、J-STD-001和UL/IEC/EN 6238等几项质量测试标准。总体而言,3025 CIS是一种多功能晶圆测试和计量机器,其内置功能可实现更高的精度。它是半导体元件质量控制和生产开发过程的理想设备。