二手 NANO SYSTEM NVM-3025 CIS #9153463 待售
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ID: 9153463
Surface profiling system
Includes
(1) Vacuum gauge
(1) AF Filter
(1) Regulator
(1) Filter regulator
(1) Circuit breaker
(1) Solid state relay
(2) 2-Phase micro step drive
(1) IO opto-isolation PCB board
(2) Motion controllers
(2) Power supplies.
NANO Equipment NVM-3025 CIS是一个晶圆测试和计量系统，旨在牢记精确计量的商业和工业要求。由NANO Unit制造，这款三位一体的执行者能够同时进行半导体晶片的低级和高级测试和计量。NVM-3025 CIS具有许多功能,使其非常适合许多应用,包括：高分辨率成像：NANO Machine NVM-3025 CIS旨在提供高达每像素5 μ m的图像分辨率,从而能够精确检查半导体器件。这可以用于从分析晶体管栅极长度到表征蚀刻深度的所有方面。自动表面粗糙度特征：此工具能够在短短几秒钟内测量诸如表面粗糙度、表面拓扑和厚度等参数。这使其成为过程控制和缺陷分析的理想工具。高速扫描：NVM-3025 CIS直观界面和高速扫描可以在18秒内执行晶圆扫描、分析数据并提供结果。此功能使用户能够快速识别流程优化、严重缺陷检查和其他应用程序的问题。多工具组合：NANO Asset NVM-3025 CIS可以接受多阶段组合，方便复杂的计量任务。该模型可与多种专门的工具一起使用，包括表面粗糙度profilers、显微镜系统、干涉仪等，以允许广泛的测试能力。多级微观控制：NVM-3025独联体使用多级微观控制系统，以促进准确的计量结果。该设备能够精确操作和测量关键参数，从而使系统能够提供准确和可重复的结果。质量保证自动化：NANO Unit NVM-3025 CIS采用自动化协议编程，有助于晶圆级测试数据的质量保证。健壮的机器可以实时分析结果，在检测到异常时立即提醒人员。NVM-3025 CIS是半导体晶片精密计量的理想选择。它具有高分辨率的成像、快速的扫描速度以及经过精细调整的自动化协议,使其成为生产现场的宝贵工具。
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