二手NANOVEA(晶圆测试、计量)待售

NANOVEA是晶圆测试和计量设备的领先制造商。这些系统用于测量和分析晶片的物理和机械性能，晶片是用于制造电子器件的半导体材料的薄片。NANOVEA晶片测试单元的关键优点之一是精度和精确度。这些机器使用手写笔剖面图、纳米压痕和划痕测试等先进技术来提供高度准确和可靠的测量。它们可以分析表面粗糙度、厚度、硬度、附着力和摩擦等特性。NANOVEA晶片测试系统的一个例子是ST500，它是为晶片的串联和批量表征而设计的。该ST500提供快速、自动化的测量功能,从而在晶圆测试过程中实现高吞吐量和高效率。它可以提供晶圆表面质量、地形和粗糙度的综合分析。该系统用户友好,可轻松集成到现有制造环境中。NANOVEA晶圆测试和计量工具的其他示例包括ST400、ST200和ST100模型,每种模型都提供满足不同客户需求的特定特性和功能。这些资产提供了可靠、准确的数据，使半导体制造商能够优化其工艺，提高产品质量。