二手 NIKON AM-601D #9225401 待售

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ID: 9225401
晶圆大小: 8"
Reticle inspection system, 8" Missing parts.
尼康AM-601D晶圆测试和计量设备提供可靠和准确的数据从你的半导体工艺.该先进系统旨在测量与先进半导体晶片的微结构和化学成分有关的各种参数。该单元配备了独特的尖端光学计量工具组合,用于在微米和纳米尺度上测量晶圆结构。直观的GUI使您能够快速设置所需的计量任务,并确保测量准确且可重复。该机器利用高度自动化的工具进行晶圆定位和处理,从而提高吞吐量并减少人为错误。自动扫描和数据捕获过程确保精确和一致的晶圆测量。双激光共聚焦显微镜设备设计用于测量晶片上的各种特征,并与功能强大的软件套件相结合,以快速分析结果。该模型还包括一个集成的SEM/EDS设备,用于对原子水平的晶片进行更详细的分析。NIKON AM 601D晶圆测试和计量系统设计用于半导体制造生产线.它能够在相对较短的时间内执行从简单到复杂的一系列测量。在几分钟内准确收集和分析数据。该单元高度可靠,使用高精度组件,以确保准确和可重复的数据。机器还配备了先进的软件套件,可以方便地定制各种计量任务,并提供晶圆分析结果的详细分析。AM-601D晶圆测试和计量工具非常适合那些为半导体工艺寻找可靠和准确工具的人。这种强大的资产可用于快速测量各种参数,使您能够最大限度地提高流程收益率。该模型设计为易于使用和维护,使其成为任何制造系列中的宝贵工具。
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