二手 NIKON AM-601M #9209442 待售

NIKON AM-601M是一种先进的晶片测试和计量设备，设计用于精确测量半导体晶片的性能。该系统采用先进的自动化算法，能够对这些材料进行精确和准确的检查，产生高度可靠的结果。该设备的设计易于编程，可将其整合到现有生产线或实验室实验中。AM-601M具有较大的成像场和高分辨率摄像头,可以检查各种基于晶圆的设备。这台自动化机器能够获得各种均匀和非均匀特性的高度精确的测量，包括位移、距离、宽度、高度、面积、压力等。NIKON AM-601M利用数字显微镜工具，可以捕获和分析精确度高达1纳米的微观图像。这一资产还采用了先进的光学图像处理算法，使其能够准确检测半导体结构形成中的误差。它进一步配备了扫描电子显微镜，使其能够获得晶圆试样表面的3D成像。该模型还能够检测晶片表面的光学缺陷，包括裸斑、眩光和小模具尺寸的不匹配。AM-601M还配备了激光源，使其能够测量通常难以用其他方法观察到的激光标志，如丘陵和碟形。NIKON AM-601M能够执行各种计量任务,包括晶圆应力、精加工测量、步高和轮廓平滑度。它还能够测量薄膜在晶片上的厚度和检测薄膜缺陷。NIKON-AM-601M有一个用户友好的计算机界面，这有助于使测量尽可能准确。此外,它的高级自动化有助于减少流程所需的时间。NIKON AM-601M被用于广泛的行业，包括精密工程、电子制造、消费品、汽车和航空航天工业。其坚固的设计确保了长期的可靠性和耐用性,使其成为高级晶圆测试和计量操作的理想选择。