二手 NOVA NovaScan 3090 Next #293654378 待售

NOVA NovaScan 3090 Next Wafer Metrology Equipment是一种高分辨率、精密的自动化系统,旨在快速准确地精确测量、分析和检查半导体集成电路芯片或晶片。该单元能够快速准确地测试多达4"和6"晶片,并提供一系列选项,包括自动倾斜系列和双向扫描。NovaScan 3090 Next利用先进的光学显微镜机与14位自动晶圆滑块处理器。这样可以进行快速测试,测量一系列特征,包括临界尺寸和覆盖、晶圆轮廓和平坦度、平均粗糙度和微缺陷。此工具为与一系列自动化系统集成提供了极好的灵活性,使整个测试和检查周期能够轻松而完整地进行管理。这项资产是建立在一个创新的精密显微镜，提供了一个极高的分辨率和准确度。优越的光学模型提供了最大的光学性能和一致的精确读数，无论在显微镜内或芯片表面的位置如何。这得到自动图像采集的支持,这有助于进一步确保准确性和可靠性。此外，NOVA NovaScan 3090 Next是为了满足晶圆测试和计量的高层次需求而设计的。该设备为数据采集、分析和报告提供高度复杂的图像处理能力和自动化控制。该软件包括各种选项，用于定制系统，以满足特定应用程序的需求，使数据分析和报告各种因素成为可能。这些数据可用于开发高质量的计量解决方桉，该解决方桉是根据应用程序的确切要求量身定制的。NovaScan 3090 Next Wafer Metrology Unit是一款先进、高性能的机器，提供高精度和精确的测试、分析和检查。此工具旨在满足精密晶圆测试和计量的苛刻需求,非常适合广泛的应用。