二手 OHKURA DP2301 #9374939 待售
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OHKURA DP2301是一种晶圆测试和计量设备。它是为测量薄膜厚度、电阻率和其他电性能等晶片参数而设计的。该系统采用了剖面仪测量、阻抗测量、X射线荧光分析和扫描电子显微镜等多种测试方法。DP2301由能够精确测量的高精度模块组成。晶圆敏感器单元允许无瑕疵的样品加载和卸载,并确保精确控制的热环境。机器的核心是测试站,可以通过Visual Basic程序进行测试,这些程序可以针对特定的晶圆参数进行定制。该工具允许进行广泛的测试,包括电流、电压、电容、电阻、载波移动性、电流密度和片状电阻测量。此外,X射线荧光(XRF)和扫描电子显微镜(SEM)可以提供有关样品的额外信息。OHKURA DP2301集成晶片级既可以进行分析,也可以进行均匀的样品运动,并可以同时测量多个样品点。此外,舞台可以连接到PC上并实时控制,允许用户定义的运动序列。资产还包含内置的多样本自动测量(MASM)模型。该设备可以在单个晶片上捕获多达256个数据点,并将数据存储在其内存中。这允许从几个晶圆位置快速收集数据。最后,DP2301设计既方便用户,又高度可靠。它具有易于跟踪的用户界面和全面的控制面板,可快速轻松地访问不断变化的参数。此外,它的自我诊断和调试系统允许快速识别问题和错误,允许快速纠正行动。总之,OHKURA DP2301装置是一种可靠、通用的晶圆测试计量设备.它特别适合于测量晶圆参数,如薄膜厚度、电阻率和其他电性能。它的测试范围、多样本自动测量工具和用户友好的设计使其成为目前市场上最好的选择之一。
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