二手 OLIN MICROELECTRONIC MATERIALS 25 #9036608 待售

OLIN MICROELECTRONIC MATERIALS 25是一种用于半导体产品和晶圆结构的晶圆测试和计量设备。该系统允许用户以± 2%的高精度测量低至纳米级的薄膜厚度。该装置用于测试多种不同图样的晶片，如薄膜、光刻胶、光致发光、光伏和扩散。该单元配有屏蔽显微镜、X射线源、X射线检测器、快门释放装置和机械手，用于处理和测量晶圆样品。该机基于X射线荧光（XRF）技术。这个过程涉及用X射线照射样品，从样品内原子的内壳跃迁产生一束高能电子束。这些电子然后激发原子的外壳电子，被检测为荧光X射线。该荧光信号用于测量样品薄膜厚度。该工具还包括其他功能，如光谱映射、3D成像和胶片分析。光谱映射特征用于分析检测到的X射线的峰值形状和相对强度。3 D成像用于测量横截面曲面轮廓和材料的非均匀性。此外,还利用薄膜分析特征分析薄膜的组成.该资产能够测量直径不超过200毫米的基板，样品厚度从1纳米到10微米不等。再者，模型还配备了光学编码器，它允许机械手以连续运动的方式将样本旋转至360°。这为用户提供了更准确和可重复的数据测量。25是一种先进的晶圆测试和计量设备,旨在以简单高效的方式提供高精度的结果。该系统是分析和优化工业应用新材料设计的绝佳工具。