二手 ORC MEM-5926D #9017908 待售

ORC MEM-5926D晶圆测试和计量设备是一个强大的独立系统，用于先进的表面测试和计量应用。全自动单元旨在为测量尺寸、缺陷覆盖范围、表面地形以及半导体模具等晶圆器件的其他关键指标提供快速、准确的精度。该机采用先进、自动化的测量工具组合，获得准确可靠的数据。它具有高分辨率照相机和先进的光学器件,可捕捉到具有细微特征的显微照片,如划痕、针孔、凹坑和其他表面特征。它还提供了多种图像处理选项，如图像锐化滤镜、对比度增强和其他图像增强技术。该工具配备了高级3-Axis级和高分辨率光学显微镜，可以捕捉平面内和平面外的测量结果。这样可以确保样品与测量值精确对齐，并在计量分析中提供高精度。此外，该资产还包括用于晶圆上测试和数据收集的各种探针。MEM-5926D还提供X射线荧光（XRF）作为电介质层元素成分分析的测试选项,因为它能够测量样品中元素对X射线的吸收。此功能使用户能够快速准确地确定图层的平均组成。ORC MEM-5926D提供全面的数据输出和分析功能。它使用户能够通过错误分析和缺陷评估生成全面的质量报告。除了它的其他特性外，模型还可以安装各种软件工具如Defect Analysis和Wafer Repair软件，允许用户分析故障原因，自主修复有缺陷的表面。MEM-5926D晶圆测试和计量设备旨在在各种测试条件下提供可靠的结果。它非常适合大容量半导体生产线、研究机构和其他需要精确测试和计量数据的设置。