二手 PRINCETON APPLIED RESEARCH / PAR 410 #77229 待售

PRINCETON APPLIED RESEARCH/PAR 410是一种用途广泛、创新的晶圆测试和计量设备，能够在生产过程中对晶圆上的许多不同参数进行高精度测量。该系统采用先进的光学配置，包括几种激光器、照相机和检测器，以极大的精度和一致性来测量晶片的电学和光学特性。PAR 410具有测量半导体晶片广泛的物理和电气特性的能力。电性能包括介电特性、电阻率和移动性等。光学性质包括反射率和透射率，可用于表征晶片的化学和机械性质。该单元还能够测量具有高度空间分辨率和可重复性的图桉化晶片。PRINCETON APPLIED RESEARCH 410还为用户提供了广泛的功能,例如设备编程界面（DPI）、用户友好的图形界面和强大的测试库。DPI使最终用户能够控制机器上的各种设备并自定义测试程序,以及从工具下载和存储数据。此外,用户友好的图形界面使用户能够轻松地快速可视化数据,从而有助于分析数据的结果。资产中包含的强大测试库使用户能够快速轻松地为其测量的晶片设置测试,从而减少了配置模型的时间,并增加了分析结果的时间。此外，设备还有一个自动校准系统，使用户能够轻松地重新校准设备，以确保测量的准确性和可靠性。综上所述，410晶片测试计量机是测量半导体晶片多种物理和电气性能的通用可靠解决方桉。其先进的光学配置、强大的测试库、用户友好的图形界面以及自动校准工具，使其成为半导体晶片质量控制和生产测试的理想选择。