二手 RAYTEX RXW-1226SFI #293614929 待售

ID: 293614929
晶圆大小: 12"
Wafer inspection system, 12" (2) FOUP Load ports Proprietary laser beam delivery system (2) Arm robots ULPA Filter Function: Edge scan Inspection optics Optics stage: XY-Θ Wafer staging chuck Illumination Wafer sorted Controller hardware Network server Non-contact pre-alignment VISION SYSTEM CCD Camera Notch inspection included Platform with wafer mapping scanners EZ System Upgrade: Top side and back side EZ Camera Auto zoom Joystick control 2006-2008 vintage.
RAYTEX RXW-1226SFI是一种晶圆测试和计量设备,旨在为各种晶圆尺寸、变形和接触类型提供可靠且可重复的结果。该系统特别适合测试和分析单个模具和整个晶片表面状况。它提供了广泛的功能,例如高分辨率无损成像、各种自动化测试功能以及全面的数据分析功能。该单元将12英寸晶片级与实时伺服控制相结合,创造出一个高度精确和动态的测试环境。稳定机器可确保晶片对齐并牢固地固定,从而实现精确的测量。该级与高分辨率成像工具集成在一起,可从每个模具和整个晶片表面捕获多达5500帧数据。该成像资产还能够使用获得专利的边缘检测算法捕获每个模具的轮廓。RAYTEX RXW 1226SFI包括针对各种晶圆变形和接触类型的一系列自动测试功能。自动化软件套件提供用于数据分析、统计验证和日志文件生成的功能。这样就可以立即审查和解释测试结果。该型号还支持适应性强的处理器内核,并直接与外部网络连接。设备采用安全和维护协议进行设计。完全集成的空气过滤系统可管理工作环境,同时双重隔离可确保与电源的安全连接。内置维护功能可确保其性能达到峰值。RXW-1226SFI是一个通用、准确的晶圆测试和计量单元。它提供高分辨率成像、自动化测试功能、全面的数据分析以及可靠和可重复的结果。凭借其全面的安全和维护协议,它是测试和分析各种尺寸、变形和接触类型的晶片的理想解决方桉。
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