二手 RIGAKU MFM65 #9133012 待售

RIGAKU MFM65是一种晶圆测试和计量学设备，提供全面的能力，用于测量半导体、光学和其他先进材料的电气、光学和机械性能。这个精密的系统结合了高精度的仪器、软件和成像技术，在纳米级产生可靠的测量。为了确定晶片的特性，RIGAKU MFM 65使用扫描隧道显微镜（STM）进行测量。这种高分辨率的STM在非接触模式下运行，以免损坏晶片样品。显微镜的探针由铝金合金制成，以减少晶片表面的磨损。然后将探针对准晶片表面,扫描晶片移动时的电流和特性。MFM65还利用扫描力显微镜（SFM）来测量晶圆的物理特性。SFM包括使用专门的探针扫描晶片的表面,并在尖端穿过表面移动时测量其机械性能。这种技术也很精确，可以检测纳米尺度上晶圆表面结构的变化。MFM 65还可以对晶圆样品进行光谱测量，例如测量材料的吸收和反射光谱。这是通过将光脉冲引导到晶圆来完成的，然后将波长的光谱反射回来，每个波长包含关于晶圆性质的不同信息。RIGAKU MFM65还能够测量纳米级的电学和光学特性，这些特性对于晶圆测试和计量的成功至关重要。最后，RIGAKU MFM 65还具有板载数据处理功能。一个优化的软件单元用于分析和解释仪器收集的数据。数据随后被用于生成详细的报告，让研究人员更好地了解晶圆的性质。MFM65晶片测试和计量机器是一种精密的工具，用于表征晶片在纳米级的物理特性。该工具将精密仪器和成像技术与有效的数据分析软件相结合，以产生可靠的晶圆测量。这一资产为研究科学家和工程师提供了对各行业材料行为的宝贵洞察力。