二手 RUDOLPH FE VII/IV #9412377 待售

RUDOLPH FE VII/IV
ID: 9412377
晶圆大小: 8"
优质的: 2002
Thickness measurement system, 8" 2002 vintage.
RUDOLPH Fe VII/IV晶片测试和计量设备是半导体工业用于硅片制造的一种高度精确的测试设备。此检查和计量解决方桉有助于自动晶圆测试和诊断。它旨在检测晶片中的故障状况,评估其性能,并提供质量控制数据,以改善整个生产过程。该系统具有2毫秒的快速周期时间,能够实现高精度的可重复和可重复测量。RUDOLPH Fe VII/IV提供方向性映射,使用户可以获取晶圆的表面轮廓,仅从几个点计算总厚度。此外,该单元还可以测量低至10nm的薄膜厚度,这对于低噪声晶片非常有利。这台机器能够评估多种类型的测试项目,从模具冲压到线宽、层厚、电镀和仪表。此外,该工具还具有先进的特征识别算法和非接触评估算法。RUDOLPH Fe VII/IV是一种模块化设备,可以根据用户需求将众多选项集成到资产中。这些选项包括CD/OCD测量附加功能、应力测量软件和阴极发光附加功能。RUDOLPH Fe VII/IV可以连接到LIS、SECS-II、GEM等数据处理系统。该模型还带有图形用户界面,提供交互式控制,帮助用户导航设备。总之,RUDOLPH Fe VII/IV是一个可靠、用户友好、功能强大的系统,对于硅片的成功制造至关重要。它具有精确的测量和多用途的特性,如特征识别和自动化过程评估,被证明是晶圆测试和计量的绝佳工具。
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