二手 RUDOLPH MetaPulse 200 #9227397 待售

RUDOLPH MetaPulse 200是一种用于半导体器件的精密晶圆测试和计量设备。它能够对晶片上的IC芯片和光刻模式进行复杂的测量，包括光学平坦、厚、薄和多材料晶片。该系统提供了光学成像、自动运动阶段以及表面轮廓分析和缺陷分析的组合。大场离轴成像单元拍摄全芯片图像。另外还有一个3轴压电级,用于在聚焦、设置和XY图像采集过程中增加精确控制。使用自动曲面轮廓测量功能,自动聚焦和设置向导可帮助减少晶圆测试过程中的操作员时间。它旨在帮助开发和表征表面特征和微观结构。它利用多反射原理来获取表面噪声和像素噪声降低的图像，从而实现精确的数据采集。该机器还包含一个超高分辨率表面剖面图模块，用于检测小表面不规则。先进的算法用于分析表面拓扑结构和测量缺陷的深度和大小。该模块还可用于分析结构的物理几何形状，以及精确测量物理和电气特性。该工具的软件提供了多种功能强大的分析工具,使研究人员能够快速准确地可视化、分析和报告晶圆样本。它直观的图形用户界面使用户能够轻松分析数据，并与其他系统共享发现。除了数据采集和分析，RUDOLPH META PULSE 200还提供了将数据导出到各种第三方软件包进行进一步处理的可能性。该资产是晶圆测试和计量的一种经济高效且可靠的解决方桉，其设计目的是满足最苛刻的半导体制造商的需求。它的准确性、速度和灵活性是专门为提供可靠的结果而不牺牲性能而设计的。它是超精度测量晶片的理想模型。