二手 RUDOLPH MetaPulse 200 #9302043 待售
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RUDOLPH MetaPulse 200是一种通用的晶圆测试和计量解决方桉,设计用于半导体器件的高精度、表征。该设备结合了高分辨率成像、晶圆测试、参数分析和非接触式探测等功能，实现了对当今先进半导体器件的全面表征和质量控制。直观、用户友好的触摸屏界面使导航功能强大的软件变得轻松。用户可以从四种不同的工具配置中进行选择，每种工具配置都是根据应用程序的特定要求量身定制的，并根据他们查询的特定参数定制系统。在每种配置中,用户都可以访问为优化各种半导体器件参数的精度和分辨率而开发的一套高级算法。RUDOLPH META PULSE 200具有高分辨率显微镜成像单元，能够对底部不对称、粘合垫、过渡、内部空隙和针孔等微小特征进行详细评估。认识到现代设备架构的灵敏度，MetaPulse 200还结合了可靠的非接触式探测机，用于可靠的信号采集。利用集成的数据处理工具,用户可以快速获得对设备性能参数的可靠了解。附加的晶圆测试模块还提供了设备可靠性、速度、噪声裕度和电源效率的精确测量。该工具利用自动探测模块和先进的模式发生器，能够在标称和参数设置中对设备进行全面的晶圆级测试。该资产具有超高真空（UHV）的晶圆处理，这使得可重复和可靠的测试结果与最小的接触力。对于更高级的应用，META PULSE 200还提供扫描光谱反射计（SSR）对晶圆表面进行深度光谱分析。用户还可以访问参数测试模式,以帮助他们识别设备中的可靠性和参数错误。利用这些内置工具，用户可以更准确地确定其设备的功能极限。RUDOLPH MetaPulse 200是一种功能强大的晶圆测试和计量模型,提供一系列功能,旨在确保现代半导体器件的精确量化。从高分辨率成像到非接触式探测，设备为用户提供了快速可靠地进行各种分析的能力，使其成为任何晶圆测试实验室的宝贵资产。
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