二手 RUDOLPH MetaPulse 300 #9401107 待售

RUDOLPH MetaPulse 300是一个高度精确可靠的晶圆测试和计量系统。具体而言，可用于分析测量先进微电子应用中所用元件的薄膜涂层质量，如光学、光伏器件。MetaPulse 300为薄膜层和大面积基板提供了卓越的分析能力。与传统的破坏性测试技术相比，RUDOLPH MetaPulse 300采用非接触式、无破坏性的光学技术来测量高精度和高分辨率的光学性能。这使得它特别适合于测量基板上的薄膜层，以及创建结晶方向、缺陷和其他效果的地图。MetaPulse 300附带了一个专有的RUDOLPH 4D软件包,它提供了一个全面的计量解决方桉。这包括内置的高分辨率RGB-激光系统和高端光学。因此，它可以识别和测量晶片上的光学特性和缺陷。此外，它还可以提供对基板表面的完整表征，如晶体取向图和详细的表面地形图。RUDOLPH MetaPulse 300也可用于测量薄膜层上的电性能，如电阻和电容。这样做不会以任何方式损坏或影响样品。它还包括用于缺陷检测和测量的高级算法，可以帮助检测和诊断任何异常。最重要的是,MetaPulse 300具有高度的可配置性,并且可以根据任何应用程序进行定制。它专为在大批量生产环境中使用而设计,并配有直观、用户友好的界面。它也被设计用于要求苛刻的应用，如洁净室和温度控制室，在那里稳定性和准确性很重要。总体而言,RUDOLPH MetaPulse 300提供了全面、无损、高精度的晶圆测试和计量解决方桉,使其成为测量所有类型薄膜层和基板性能的宝贵工具。