二手 RUDOLPH MetaPulse G #293752830 待售
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RUDOLPH MetaPulse G是一种革命性的晶圆测试和计量设备，设计用于生产半导体晶圆的最佳性能。该系统为晶片各种参数的表征提供了一整套综合测量，从缺陷检测到模具尺寸和形状、屈服优化等等。MetaPulse G提供多种晶圆测量功能，包括非接触式计量、热成像、晶圆缺陷分析和定制检查。非接触式计量法使用高分辨率和自动化技术快速、精确地测量晶圆，其特征可达纳米范围。这非常适合于接触探针和非接触探针的模具尺寸、形状、螺距和间隙测量。热成像特征快速识别晶片上模具的位置，呈现出每个模具特性的全貌。此级别的细节和准确性提供了更好的产量优化和成本节约。晶片缺陷分析特征利用先进算法快速、准确地检测、标记和分类晶片缺陷。这样可以确保更高的质量和产量。自定义检查功能允许用户指定专用参数，将热成像和自定义算法等各种技术结合起来，提供令人难以置信的全面晶圆分析。总体而言，RUDOLPH MetaPulse G为晶圆测试和计量提供了一个高效而强大的单元。它为用户提供高级和自动化功能,以确保准确测量特征和缺陷检测。这台机器的多功能性非常适合半导体生产的用户，因为它提供了一系列晶圆测量能力来满足每一个需求。
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