二手 RUDOLPH MetaPulse-III 300XCu #293633969 待售

RUDOLPH MetaPulse-III 300XCu是一种顶级晶圆测试和计量设备。它作为测量和分析关键器件参数的综合仪器，包括电导率、介电常数、电场以及半导体的其他重要性质。RUDOLPH METAPULSE III 300XCU是为最大的通用性而设计的,允许测试不同尺寸（3至6英寸）的晶片,而无需额外的设备或工具。其先进的计算能力有助于准确、一致的测量和报告。该系统有两个独立的腔室，允许在受控环境中分别进行激发、发射和散射等操作。该单元还具有独特的检测功能，允许用户快速准确地分析每个晶片上的一系列临界微小特征，例如拓扑或材料组成的差异。它可以同时操作多达七个全分辨率光学显微镜，并提供更高的采集效率。METAPULSE III 300 XCU的核心是一系列专有探测器,其设计目的是尽可能最好地整合收集到的数据。这样可以对半导体材料进行更精确的读数和更精确的表征。该阵列在晶体学和被测试晶片的整体表面特性方面也提供了卓越的精度。MetaPulse-III 300XCu晶片测试和计量机是测量、分析和表征半导体晶片的完美工具。它坚固可靠,在测试操作中提供前所未有的准确性、效率和灵活性。RUDOLPH METAPULSE III 300 XCU凭借其尖端技术、可定制选项和集成探测器,非常适合任何半导体测试和计量要求。