二手 RUDOLPH MP 300 #9388218 待售

RUDOLPH MP 300是专业自动化晶圆测试和计量设备，非常适合制造工厂和研发实验室（R&D）。具有测量晶片表面地形特性、尺寸和电性能的能力。它与经过优化的专利计量技术集成在一起，以测试半导体器件行业中最具挑战性的薄膜和涂层。这项技术包括轮廓扫描、电压对比度成像（VCI）和倾斜测量,可提供符合国际标准的高质量测量。此外，该系统还具有光学计量学等特点，它提供实时的现场数据，并对晶片进行深入的缺陷表征。它扫描晶片高达8英寸，精度为1.5纳米。该单元可配置为执行广泛的计量任务，如监测沉积过程、缺陷分析、边缘测量、非接触电阻率测量和低或高k介电膜厚度测量。直观的图形用户界面（GUI）允许用户快速启动、控制和监控实验，轻松设置不同的计量任务。这台机器包含多种功能，如自动化工具支持、摄像头控制、数据存储和自动标线，使操作员能够快速准确地获得结果。RUDOLPH MP300还采用了独特的光学成像技术，保证了卓越的测量精度和缺陷分辨率。资产的设计基于开放式体系结构，这使得与现有系统集成变得简单。它的模块化允许用户从各种模块中进行选择，以匹配各个测量要求。为确保最大效率,该模型采用了高保真测量设备。它融合了业界最先进的技术，包括主动反馈控制、波扫描等高速方式。这有助于确保统一和准确的结果。该系统还通过减少人工干预量和消除对用户校准的需求，加强了工作流程和成本降低。MP-300提供可靠和准确的测试结果,从而改进了过程控制。它为用户提供有关晶片表面特性或缺陷的全面报告。该单位还以高质量的计量结果值得信赖的声誉为后盾，符合各大行业认证。