二手 RUDOLPH MP1-300 #293630203 待售

RUDOLPH MP1-300是专门为半导体工业设计的最先进的晶圆测试和计量系统。它在单个平台中提供全面的晶圆分析、检查、测试和表征功能。MP1-300是计量和晶圆测量的自动化解决方桉。它使用无损技术来测量晶片的光学、电气、机械和电气特性，让制造商实现更高水平的质量控制和保证。该系统配备了专用的数字扫描显微镜，能够对晶圆表面进行准确、快速的评估。显微镜提供了整个晶片表面的实时、高分辨率图像，使缺陷分析和识别能够轻松进行。RUDOLPH MP1-300还配备了一个电动探测站，能够测量电气性能。这包括电阻率、电容、电感和电阻。该系统还包括一个可对焦调谐透镜，可用于测量光学特性，如反射率和衍射。MP1-300的一个关键特点是它的专用软件，它提供全面的数据分析和管理能力。它具有用户友好的图形用户界面（GUI）,允许以各种格式处理和显示数据。软件还允许自动计算，包括与时间相关的数据，如均方粗糙度和表面积，从而允许快速准确地执行完整的晶圆轮廓测量。RUDOLPH MP1-300还包含了一系列附加功能,包括高度灵敏的自动对焦功能、高级光源控制、可编程测量参数和集成校准过程。所有这些特性都可以对各种晶片进行准确可靠的分析,使MP1-300成为确保最高质量控制和测量精度的理想工具。