二手 RUDOLPH MP1-300 #9262045 待售

RUDOLPH MP1-300晶片测试和计量设备是一种全自动测试解决方桉,可以快速准确地测量任何大小或形状的晶片。该系统旨在为广泛的应用程序促进晶片的高效和准确表征，自动化可以节省大量时间和提高准确度。MP1-300采用模块化设计,允许针对特定应用程序定制配置。该单元的模块化允许用户添加、删除或重新配置组件以提高灵活性。模块化还使用户能够利用降低的购置成本和降低的维护成本,允许用户仅根据需要添加组件。RUDOLPH MP1-300的核心是一个强大的扫描光学显微镜（SOM）阶段。这样就可以扫描晶片,并以可变深度和分辨率进行测量。整个机器非常适合分析各种晶片类型和结构，包括埋藏晶片层、高长宽比结构和有图桉的表面。该工具与RUDOLPH新开发的软件紧密结合，使资产自动化，用于完整的数据收集和分析。这使用户能够快速准确地测量晶片，并对其数据进行数据分析。该软件还考虑了检测缺陷时环境空气温度、湿度和压力的波动，从而提高了检测率。MP1-300具有软件图形用户界面（GUI）,可帮助用户完成设置和校准过程。GUI还提供对数据收集、多种配置、图像大小和帧速率的自动优化、高级缺陷审查和报告等功能的访问。总体而言，RUDOLPH MP1-300晶圆测试和计量模型是一种功能强大且用途广泛的晶圆表征自动化测试解决方桉。设备的高度模块化设计允许轻松定制配置,而集成软件则允许轻松设置和数据分析。该系统非常适合分析各种晶圆类型和结构,与手动测试相比可节省大量时间和成本。