二手 RUDOLPH MP1-300XCU #293585585 待售

RUDOLPH MP1-300XCU是半导体和微电子工业使用的一种领先的晶圆测试和计量设备。它对晶片基板的临界参数，如应力、电气特性和图像质量，提供了一个快速而准确的测量。MP1-300XCU利用晶圆表面的非接触、无损3D成像来精确测量表面几何形状和地形。该数据用于识别和消除外延沉积、清洁和引入缺陷引起的不均匀性和异常。该系统还具有先进的低功率亚微米分辨率光源，用于精确可靠地测量晶圆表面特性。该单元设计用于处理各种晶圆尺寸范围。其健壮的光学机器允许用户测量宽范围的晶圆厚度，从不到100纳米（nm）到超过5毫米（mm）。其强大的数据采集和自动化功能使得在一个会话中测量多个晶片成为可能。这样可最大程度地减少刀具利用率并节省时间,同时提供精度和准确性。RUDOLPH MP1-300XCU还具有一个全面的分析软件包，它对收集到的数据提供详细的统计分析。这使用户能够快速轻松地识别非均匀性或其他异常的区域,并微调其生产过程以提高产量和提高产品质量。该工具也是高度可定制的，允许用户根据自己的特定需求和偏好定制资产。例如，仪器附带了光学镜头的选择，允许用户定制相机的视野、分辨率和对焦精度。MP1-300XCU是晶圆测试和计量的行业领先解决方桉。它为测量表面特性提供了卓越的精度、速度和可靠性,使其成为半导体和微电子制造商及相关行业的理想解决方桉。