二手 RUDOLPH MPIIIA 300 #9411954 待售

RUDOLPH MPIIIA 300是一种高性能晶圆测试和计量设备，由RUDOLPH Technologies开发。该系统专为半导体晶片的光学检测和电气测试而设计。MPIIIA 300是RUDOLPH高性能检验计量产品线的最新版本。它促进了晶圆制造过程的高效、准确和经济高效的处理。该单元允许正面和背面计量以及缺陷检查,而无需更改任何硬件部件。RUDOLPH MPIIIA 300配备先进技术，提供可靠的缺陷检测和精确测量。例如,它采用专有的无损光学临界尺寸测量（OCD）检测技术,用于快速、准确和无损的横向尺寸测量。此外，该机器还利用获得专利的4D检测技术，帮助以高精度识别低至60纳米的窄线宽。MPIIIA 300还具有一个强大的视觉库和一个自适应学习算法，可以高精度地捕捉模式的图像。它有一个先进的成像工具，具有用于测量整个晶圆的大视野。此外，该资产能够在紫外线范围内进行二维成像，并且能够在晶圆表面上进行表面计量。RUDOLPH MPIIA 300高度可定制,可配备一系列软件选项和附件。所有这些功能都提高了其在任何应用程序上的整体性能。此外,RUDOLPH Technologies还提供全面的校准跟踪、客户服务和客户支持,以确保客户满意。总而言之，MPIIIA 300是一个先进的、具有成本效益的晶圆测试和计量模型，它优化了半导体测试和计量过程的可靠性和准确性。它的先进技术和灵活性为半导体行业的客户提供了一系列好处。