二手 RUDOLPH S200 #9157249 待售

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ID: 9157249
优质的: 2002
Film thickness measurement system Light source: 633 nm 780 nm UVR Computer: P3 Super micro Hard drive size: >30G Memory size: 131072 KB Other video card: Intrique Hard drive: SCSI Jaz drive: Yes CD or CDRW: CDR Board revision / automation: Base IV F/W (GV Base): 11.00     Base Arb F/W  (GV Arb): 7.10 B 088 Optics Arb (GV Optic): 5.10 B 018    Height ver. (GV Height): 4.2 B 011 Robot macro 200mm map, v01.1       Z Chuck type: Normal SECSI 2002 vintage.
RUDOLPH S200是一种晶圆测试和计量设备,设计用于研究实验室、工业和生产测试应用。凭借其创新的设计,能够以前所未有的精确度精确地测量出薄薄晶片的电阻和电容。RUDOLPH S 200系统具有200 mm AFM 6 MHz、8位精密电流测量头,支持广泛的测试电压和多达16个可重复采样点。这与专有的2轴晶片调平单元和线性测量时基相结合,允许对薄晶片和厚晶片进行精确和可重复的非接触测试。该机易于使用的设计还采用了大触摸屏显示屏,便于操作。为了提高准确性和可重复性,S200采用了一个负零化过程,在进行测量之前快速、精确地将测试头设置到其原点。此过程确保晶片对施加电流的响应被精确测量。该工具还具有高速测量资产,它使用高级测量算法来确保所收集数据的精度和可重复性,即使是长期测试也是如此。S 200还具有高性能的光学计量和分析功能,能够对纤薄晶片进行成像和对无缺陷表面进行详细分析。采用角度分辨散射显微镜的组合,利用亚微米分辨率检测和精确测量缺陷。此外,RUDOLPH S200还提供最新的晶圆测量,用于蚀刻深度表征和临界尺寸(CD)测量。总体而言,RUDOLPH S 200为研究实验室、工业和生产测试应用提供了无与伦比的精确度和可重复性。其创新的扫描头经过精心设计,以实现最佳的精度和可重复性,而其高端光学计量和分析功能使用户能够以无与伦比的精度快速、轻松地检测和测量表面缺陷和CD测量。
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