二手 RUDOLPH WS 2500 #9241213 待售

RUDOLPH WS 2500晶圆测试和计量设备是一种基于图像的自动化光学检查和分析系统，设计用于测试和分析中亚微米半导体晶圆。该单元使用先进的光学器件精确测量晶圆表面、缺陷以及粗糙度、表面拓扑、击穿点、晶粒尺寸、半导体电阻率、均匀性等其他特性。WS 2500是一种高度自动化的机器，检查过程可以用预定义的参数和自动报告设置。该检查旨在最大程度地减少停机时间,并消除手动测试和分析。它具有快速、准确的分析功能,比手动分析快50倍。RUDOLPH WS 2500包括精确的光学器件和传感器，为用户提供干净准确的成像，以及用户友好的界面，用于设置和操作。该工具具有可精确测量晶圆厚度的590nm激光二极管，以及用于非接触面分析的660nm激光二极管。它还具有一系列检查模式设置和可选附件，以满足任何晶圆测试要求。WS 2500配备了强大的成像软件，用于可视化和分析晶圆特性。该软件包括一系列分析工具，如边缘检测、曲率、图像识别，以及针对亚微米特征计量优化的鲁棒算法。它还包括用于测量关键特征、监测趋势和确保准确测试结果的高级统计工具。RUDOLPH WS 2500还提供了全面的报告工具和选项。该资产可以与用于测试大容量晶片的自动化工具集成在一起，用户界面允许方便的程序设置、控制和数据分析。它是一种可靠、经济高效的中亚微米半导体晶片测试和分析解决方桉。