二手 SDI SPV 300 #9157370 待售

SDI SPV 300是一个用途广泛、功能强大的晶圆测试和计量系统，旨在提供对各种半导体产品的全面洞察。SDI SPV-300拥有最先进的光学和照明系统,可实现晶圆表面的无与伦比的光学覆盖,确保获得半导体产品每个单独组件所需的精确灵敏度和精度。SPV 300利用最新的扫描和成像技术提供测试晶片的全覆盖。这种先进和全面的扫描系统允许以快速和用户定义的扫描速率获取高分辨率图像。先进的成像过程以及SPV-300提供的灵活性允许获取跨越各种大小、分辨率和设置的图像,从而使用户能够分析不同波长的晶圆。SDI SPV 300还具有先进的实时计量功能。这样就能够以极高的准确性和准确性对测试对象特征进行实时分析和测量，能够实时评估测试物品的参数，并有效筛选出不符合要求的质量标准或要求的测试物品。SDI利用高速电荷耦合器件（CCD）相机和高疫苗光学系统相结合，在晶圆测试和计量应用方面SPV-300卓越。这主要是由于大量的小型化元件在电子束显微镜下呈现时可以容纳在晶片上。它还能够检查特征尺寸很小的晶片，否则标准显微镜或成像系统将看不到这些晶片。SPV 300令人印象深刻的功能集和性能使其成为晶圆测试和计量应用的理想解决方桉,尤其是对于精度和质量要求严格的半导体产品。其独特的光学覆盖范围和高速成像系统让用户对正在测试和测量的晶圆的设备或特征有前所未有的洞察力。因此,SPV-300非常适合用于IoT设备、高级IC等应用程序,以及任何其他需要高精度和高质量的应用程序。